Die Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) dringt in der Regel bis zu einer Tiefe von 1-1000 µm in die Probe ein.
Die Eindringtiefe wird durch das Atomgewicht der Elemente in der Probe beeinflusst.
Leichtere Elemente sind in größeren Tiefen schwieriger zu erkennen als schwerere Elemente.
Dies liegt daran, dass die charakteristischen Röntgenstrahlen, die während der Analyse ausgesendet werden, in diesen Tiefen im Allgemeinen von Oberflächenatomen stammen.
Die Fähigkeit, Elemente in unterschiedlichen Tiefen zu erkennen, ist für eine genaue Analyse entscheidend.
Sie beeinflusst das vom RFA-Spektrometer empfangene Signal.
Elemente mit höherer Energie, typischerweise solche mit höherer Ordnungszahl, können in einer Probe tiefer entweichen.
Das bedeutet, dass sie im Vergleich zu Elementen mit niedrigerer Energie aus tieferen Schichten nachgewiesen werden können.
Diese Tiefenempfindlichkeit ist ein Schlüsselfaktor bei der Vorbereitung und Interpretation von RFA-Analyseergebnissen.
4 Wichtige Einsichten
1. Bereich der Eindringtiefe
Die RFA-Analyse durchdringt die Probe in der Regel bis zu einer Tiefe von 1-1000 µm.
2. Einfluss des Atomgewichts
Die Eindringtiefe wird durch das Atomgewicht der Elemente in der Probe beeinflusst.
3. Nachweis von Elementen
Leichtere Elemente sind in tieferen Schichten schwieriger nachzuweisen als schwerere Elemente.
4. Empfindlichkeit in der Tiefe
Elemente mit höherer Energie haben eine größere Austrittstiefe, d. h. sie können in tieferen Schichten nachgewiesen werden.
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