Wenn es um die Elementanalyse geht, ist die Röntgenfluoreszenz (XRF) eine beliebte Wahl.
Es gibt jedoch alternative Techniken, die ebenfalls wertvolle Erkenntnisse liefern können.
Zu diesen Alternativen gehören die optische Emissionsspektrometrie (OES) und die laserinduzierte Durchbruchsspektrometrie (LIBS).
Sowohl OES als auch LIBS können Werkstücke ohne umfangreiche Probenvorbereitung analysieren.
Im Vergleich zur RFA haben sie jedoch eine Reihe von Einschränkungen.
Was ist die Alternative zu XRF? 3 Schlüsseltechniken erklärt
1. Optische Emissionsspektrometrie (OES)
Die OES nutzt das von angeregten Atomen emittierte Licht zur Bestimmung der Elementzusammensetzung eines Materials.
Sie ist besonders nützlich für den Nachweis von Elementen mit niedriger Ordnungszahl.
OES kann eine genaue quantitative Analyse liefern.
Allerdings erfordert die OES einen Funken zur Anregung der Atome.
Dieser Funke kann die Probe physisch beschädigen.
Daher ist die OES für zerstörungsfreie Prüfungen weniger geeignet.
2. Laser-induzierte Breakdown-Spektrometrie (LIBS)
Bei der LIBS wird mit einem Hochleistungslaserimpuls ein Mikroplasma auf der Probenoberfläche erzeugt.
Das Spektrum des von diesem Mikroplasma emittierten Lichts wird dann analysiert, um die Elementzusammensetzung zu bestimmen.
LIBS hat den Vorteil, dass es Feststoffe, Flüssigkeiten und Gase ohne nennenswerte Probenvorbereitung analysieren kann.
Wie OES kann LIBS jedoch aufgrund der hochenergetischen Lasereinwirkung Spuren auf der Probe hinterlassen.
3. Röntgenfluoreszenz (XRF)
Die Röntgenfluoreszenzanalyse ist nach wie vor eine bevorzugte Methode für viele Anwendungen.
Dies liegt an ihrer zerstörungsfreien Natur und ihren umfassenden analytischen Möglichkeiten.
Die RFA kann Proben analysieren, ohne deren physikalische Eigenschaften zu verändern.
Dies macht sie ideal für Branchen, in denen die Unversehrtheit von Materialien entscheidend ist.
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