Das Verständnis der Unterschiede zwischen Röntgenfluoreszenz- (XRF) und Röntgenbeugungstechniken (XRD) ist für jeden, der sich mit Materialanalyse beschäftigt, von entscheidender Bedeutung.
Diese beiden Verfahren werden zur Erfassung unterschiedlicher Informationen über Materialien eingesetzt, und jedes hat seine eigenen Anwendungen und Vorteile.
5 wichtige Punkte zum Verständnis des Unterschieds zwischen XRF- und XRD-Techniken
1. Arbeitsweise
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse wird eine Probe mit Röntgenstrahlen beschossen, wodurch die Probe Fluoreszenzstrahlung aussendet.
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse hingegen wird die kristalline Struktur von Materialien auf der Grundlage des Bragg'schen Gesetzes mit Hilfe von Röntgenstrahlen analysiert.
2. Art der bereitgestellten Informationen
XRF wird in erster Linie zur Bestimmung der Elementzusammensetzung von Materialien verwendet.
XRD wird für die Charakterisierung der kristallinen Struktur von Materialien verwendet.
3. Anwendungen
Die RFA ist zerstörungsfrei und kann Schüttgut analysieren. Sie eignet sich daher für die Qualitätskontrolle von Metalllegierungen, die Analyse von Schwefel in Benzin und den Nachweis von Schwermetallen in Kunststoffen und Elektronik.
Die Röntgenfluoreszenzanalyse ist besonders nützlich für die Untersuchung des Grades der Ordnung oder Unordnung in der Anordnung der Atome in einem Material und kann für oberflächensensitive Analysen angepasst werden, wodurch sie sich für die Charakterisierung dünner Schichten und anderer nanostrukturierter Materialien eignet.
4. Probenvorbereitung
Die Probenvorbereitung für die RFA umfasst häufig die Herstellung allgemeiner Probenpellets mit einer hydraulischen Presse, um die Integrität der Probe zu erhalten.
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse ist in der Regel keine umfangreiche Probenvorbereitung erforderlich, abgesehen von der Sicherstellung, dass die Probe in einer Form vorliegt, die analysiert werden kann.
5. Anpassungsfähigkeit
Die Röntgenfluoreszenzanalyse ist vielseitig und für eine Vielzahl von Materialien und Formen geeignet.
XRD kann für die oberflächensensitive Analyse mit der Technologie des streifenden Einfalls (GIXRD) angepasst werden, wodurch es für die Analyse von Strukturen im Nanometerbereich geeignet ist.
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