Bei den Methoden der Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) werden Röntgenfluoreszenzspektrometer eingesetzt, um die elementare Zusammensetzung von Materialien zu analysieren. Dazu werden Atome im Material mit primären Röntgenstrahlen angeregt, die dann sekundäre Röntgenstrahlen (Fluoreszenz) aussenden, die für die vorhandenen Elemente charakteristisch sind. Die Analyse kann qualitativ, d. h. zur Identifizierung der Elemente, oder quantitativ, d. h. zur Bestimmung der Konzentrationen dieser Elemente, erfolgen. Die RFA-Methoden werden nach der Art und Weise, wie die emittierten Röntgenstrahlen gestreut und nachgewiesen werden, in die Kategorien Wellenlängendispersion und Energiedispersion eingeteilt.
1. Wellenlängendispersions-RFA (WDXRF):
Bei dieser Methode wird ein Kristallspektrometer verwendet, um die fluoreszierenden Röntgenstrahlen nach Wellenlängen zu trennen. Jedes Element emittiert Röntgenstrahlen bei bestimmten Wellenlängen, die dann nachgewiesen und analysiert werden, um die in der Probe vorhandenen Elemente zu identifizieren. Die WDRFA bietet eine hohe Auflösung und Empfindlichkeit, so dass sie sich für eine detaillierte Elementanalyse eignet.2. Energiedispersions-RFA (EDXRF):
Bei dieser Methode wird ein Halbleiterdetektor verwendet, um die Energie der fluoreszierenden Röntgenstrahlen direkt zu messen. Dies ermöglicht den gleichzeitigen Nachweis mehrerer Elemente, ohne dass bewegliche Teile erforderlich sind, was die Geschwindigkeit und Einfachheit der Analyse erhöht. EDXRF ist leichter zu transportieren und vielseitiger, wodurch es sich ideal für den Einsatz vor Ort und für schnelle Untersuchungen eignet.
3. Tragbare XRF-Analysatoren:
Diese Geräte sind tragbar und bieten Mobilität und Autonomie, so dass sie vor Ort und in Echtzeit analysiert werden können, ohne dass ein Labor eingerichtet werden muss. Sie sind besonders nützlich in Branchen, in denen sofortige Ergebnisse entscheidend sind, wie z. B. beim Metallrecycling, bei der Umweltüberwachung und bei der Qualitätskontrolle in der Fertigung.4. Technologische Fortschritte bei XRF:
Zu den jüngsten Fortschritten gehört die Entwicklung von mehrschichtigen Filmkristallen, die den Nachweisbereich auf leichte Elemente wie Beryllium, Bor, Kohlenstoff, Stickstoff und Sauerstoff erweitert haben. Verbesserungen bei der Leistung der Röntgenröhren, der Kollimation und der Detektortechnologie haben auch die Empfindlichkeit und die Nachweisgrenzen moderner RFA-Spektrometer erhöht.
5. Probenvorbereitung:
