Die Spotgröße der RFA (Röntgenfluoreszenz) liegt bei herkömmlichen Systemen typischerweise zwischen 20 mm und 60 mm.Diese große Spotgröße ermöglicht die Verwendung eines großen Winkels der Röhrenstrahlung zur Anregung, und das analysierte Probenvolumen wird über die gesamte Spotfläche gemittelt.Die RFA ist eine zerstörungsfreie Technik für die Element- und Materialanalyse, die schnelle und genaue Ergebnisse bei minimaler Probenvorbereitung liefert.Sie wird in der Industrie häufig zur Überprüfung der Materialzusammensetzung und der Schichtdicke eingesetzt und ist damit ein vielseitiges Werkzeug für die Qualitätskontrolle und für Forschungsanwendungen.
Die wichtigsten Punkte werden erklärt:
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Spotgröße von XRF:
- Die Spotgröße herkömmlicher XRF-Systeme liegt typischerweise zwischen 20 mm bis 60 mm .
- Diese große Spotgröße ist vorteilhaft, weil sie die Verwendung eines breiten Winkel der Röhrenstrahlung für die Anregung, was ein größeres analysiertes Probenvolumen gewährleistet.
- Die durch die RFA berechnete Zusammensetzung wird über das gesamte analysierte Volumen gemittelt und liefert eine repräsentative Analyse der Probe.
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Die zerstörungsfreie Natur der XRF:
- XRF ist ein zerstörungsfreie Technik, d. h. die Probe wird während der Analyse nicht beschädigt.
- Diese Eigenschaft ist besonders vorteilhaft für die Analyse wertvoller oder unersetzlicher Proben, da diese nach dem Test wiederverwendet werden können.
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Schnelle und exakte Analyse:
- XRF liefert schnelle Ergebnisse mit Analysezeiten zwischen 10 Sekunden bis zu einigen Minuten .
- Die Technik ist sehr genau, mit einer Nachweisgrenze von 0,0005 mg g-1 und einer Analysegenauigkeit von 0,02% bis 2,0% .
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Breites Spektrum der Elementaranalyse:
- XRF kann Elemente analysieren von Beryllium (Be) bis Uran (U) wobei leichtere Elemente (unterhalb von Natrium) schwieriger zu erkennen sind.
- Es bietet einen breiten linearen Bereich des analysierten Elementgehalts, von Spurenwerten ( 0.0001% ) bis zu hohen Konzentrationen ( 99.999% ).
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Minimale Probenvorbereitung:
- XRF erfordert wenig bis gar keine Probenvorbereitung und ermöglicht die direkte Analyse von festen, flüssigen oder pulverförmigen Proben.
- Dies reduziert den mit der Probenvorbereitung verbundenen Zeit- und Kostenaufwand und macht die RFA zu einer praktischen Wahl für viele Anwendungen.
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Anwendungen von XRF:
- XRF wird in der Industrie häufig eingesetzt für Qualitätskontrolle , Materialprüfung und Messung der Schichtdicke .
- Es wird auch in der Forschung und Entwicklung verwendet für Elementaranalyse und Materialcharakterisierung .
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Erkennungstiefe:
- Die Detektionstiefe von XRF reicht von 0,03 mm bis 3 mm abhängig von der Probe und den zu analysierenden Elementen.
- Dadurch eignet sich die RFA sowohl für die Analyse von Oberflächenschichten als auch von Schüttgut.
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Merkmale des Instruments:
- Moderne XRF-Geräte sind ausgestattet mit fortschrittlicher Elektronik und modernste Algorithmen die innerhalb von Sekunden hochwertige Messungen liefern.
- Viele XRF-Systeme verfügen über Touchscreen-Displays für eine einfache Bedienung, die eine minimale Schulung der Benutzer erfordert.
Zusammenfassend lässt sich sagen, dass die Spotgröße der RFA ein kritischer Parameter ist, der das Analysevolumen und die Genauigkeit der Ergebnisse beeinflusst.Mit ihrer großen Messfleckgröße, ihrer zerstörungsfreien Natur und ihren schnellen Analysemöglichkeiten ist die RFA ein leistungsstarkes Werkzeug für die Element- und Materialanalyse in verschiedenen Branchen.
Zusammenfassende Tabelle:
| Merkmal | Einzelheiten |
|---|---|
| Spot Größe | 20 mm bis 60 mm |
| Analysezeit | 10 Sekunden bis ein paar Minuten |
| Nachweisgrenze | 0,0005 mg g-1 |
| Genauigkeit | 0,02% bis 2,0% |
| Elementarer Bereich | Beryllium (Be) bis Uran (U) |
| Vorbereitung der Probe | Minimal oder keine |
| Anwendungen | Qualitätskontrolle, Materialprüfung, Schichtdickenmessung |
| Detektionstiefe | 0,03 mm bis 3 mm |
| Merkmale des Geräts | Fortschrittliche Elektronik, Touchscreen-Displays, modernste Algorithmen |
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