Wissen Welche Eigenschaften haben Siliziumdioxidschichten, die durch PECVD bei niedrigem Temperaturdruck abgeschieden werden? 8 Schlüsselpunkte
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Technisches Team · Kintek Solution

Aktualisiert vor 2 Monaten

Welche Eigenschaften haben Siliziumdioxidschichten, die durch PECVD bei niedrigem Temperaturdruck abgeschieden werden? 8 Schlüsselpunkte

Siliziumdioxidschichten, die durch plasmaunterstützte chemische Gasphasenabscheidung (PECVD) bei niedriger Temperatur und niedrigem Druck abgeschieden werden, bieten mehrere einzigartige Eigenschaften, die sie ideal für moderne elektronische Anwendungen machen.

8 wichtige Punkte zu Siliziumdioxidschichten, die durch PECVD abgeschieden werden

Welche Eigenschaften haben Siliziumdioxidschichten, die durch PECVD bei niedrigem Temperaturdruck abgeschieden werden? 8 Schlüsselpunkte

1. Niedrige Abscheidungstemperatur

Das PECVD-Verfahren ermöglicht die Abscheidung von Siliziumdioxidschichten bei deutlich niedrigeren Temperaturen als die herkömmlichen CVD-Verfahren (Chemical Vapor Deposition).

Diese liegt in der Regel zwischen 300°C und 350°C, verglichen mit 650°C bis 850°C, die bei CVD erforderlich sind.

Dieser Niedrigtemperaturbetrieb ist von entscheidender Bedeutung, da er die thermische Schädigung des Substrats minimiert und die Interdiffusion und Reaktion zwischen der Schicht und dem Substratmaterial verringert.

2. Geringere innere Spannungen

Die niedrige Abscheidungstemperatur bei der PECVD-Beschichtung trägt zur Verringerung der inneren Spannungen bei, die sich aus der Abweichung des linearen Ausdehnungskoeffizienten zwischen der Schicht und dem Grundmaterial ergeben.

Dies ist wichtig für die Aufrechterhaltung der strukturellen Integrität und der Adhäsion der Schicht auf dem Substrat.

3. Hohe Abscheiderate

Trotz der niedrigen Temperaturen erreicht die PECVD hohe Abscheideraten, die mit denen anderer CVD-Verfahren vergleichbar sind.

Diese Effizienz ist besonders für industrielle Anwendungen von Vorteil, bei denen der Durchsatz ein kritischer Faktor ist.

4. Amorphe und mikrokristalline Schichten

Die durch die PECVD ermöglichte Abscheidung bei niedrigen Temperaturen ist für die Herstellung amorpher und mikrokristalliner Schichten förderlich.

Diese Arten von Schichten sind aufgrund ihrer gleichmäßigen und stabilen Eigenschaften in vielen elektronischen Anwendungen wünschenswert.

5. Gleichmäßige Filmeigenschaften und -dicke

Die geschützte Reaktorkonstruktion der PECVD-Anlagen gewährleistet eine gleichmäßige Gasverteilung und gleichmäßige Temperaturprofile auf der Substratoberfläche.

Dies führt zu äußerst gleichmäßigen Schichteigenschaften und -dicken, die für die Zuverlässigkeit und Leistung der abgeschiedenen Schichten in elektronischen Geräten von entscheidender Bedeutung sind.

6. Gute Stufenbedeckung

PECVD bietet eine hervorragende Stufenbedeckung, d. h. die Schicht kann komplexe Topografien auf dem Substrat konform beschichten.

Dies ist entscheidend für die wirksame Isolierung und den Schutz komplizierter elektronischer Bauteile.

7. Ausgezeichnete Kontrolle der Materialeigenschaften

PECVD ermöglicht eine präzise Steuerung verschiedener Materialeigenschaften wie Brechungsindex, Spannung und Härte.

Diese Präzision ist entscheidend für die Anpassung der Folieneigenschaften an spezifische Anwendungsanforderungen.

8. Anwendung in der VLSI- und ULSI-Produktion

Die PECVD-Technologie wurde erfolgreich bei der Herstellung von integrierten Schaltkreisen in sehr großem Maßstab (VLSI, ULSI) eingesetzt.

Sie wird für die Herstellung von Siliziumnitrid-Schutzschichten, isolierenden Siliziumoxid-Zwischenschichten und für die Herstellung von Dünnschichttransistoren (TFT) für Aktivmatrix-LCD-Displays verwendet.

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